Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Automatic Generation of Combinatorial Test Data için kapak resmi
Automatic Generation of Combinatorial Test Data
Yazar 
Zhang, Jian. author. Zhang, Zhiqiang. author. Ma, Feifei. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-43429-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Yazar 
Sengupta, Anirban. editor. Dasgupta, Sudeb. editor. Singh, Virendra. editor. Sharma, Rohit. editor. Kumar Vishvakarma, Santosh. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-32-9767-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Three Approaches to Data Analysis Test Theory, Rough Sets and Logical Analysis of Data için kapak resmi
Three Approaches to Data Analysis Test Theory, Rough Sets and Logical Analysis of Data
Yazar 
Chikalov, Igor. author. Lozin, Vadim. author. Lozina, Irina. author. Moshkov, Mikhail. author. Nguyen, Hung Son. author.
Yer Numarası 
ONLINE(333195.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-28667-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Parsing the Turing Test Philosophical and Methodological Issues in the Quest for the Thinking Computer için kapak resmi
Parsing the Turing Test Philosophical and Methodological Issues in the Quest for the Thinking Computer
Yazar 
Epstein, Robert. editor. Roberts, Gary. editor. Beber, Grace. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6710-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: