Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
2013
(6)
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
High-Performance Computing Using FPGAs için kapak resmi
High-Performance Computing Using FPGAs
Yazar 
Vanderbauwhede, Wim. editor. Benkrid, Khaled. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331283.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1791-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Design for High Performance, Low Power, and Reliable 3D Integrated Circuits için kapak resmi
Design for High Performance, Low Power, and Reliable 3D Integrated Circuits
Yazar 
Lim, Sung Kyu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(330852.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9542-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Dynamic Reconfiguration in Real-Time Systems Energy, Performance, and Thermal Perspectives için kapak resmi
Dynamic Reconfiguration in Real-Time Systems Energy, Performance, and Thermal Perspectives
Yazar 
Wang, Weixun. author. Mishra, Prabhat. author. Ranka, Sanjay. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331237.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0278-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Fault-Tolerant Design için kapak resmi
Fault-Tolerant Design
Yazar 
Dubrova, Elena. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331297.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2113-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
LTE-Advanced Relay Technology and Standardization için kapak resmi
LTE-Advanced Relay Technology and Standardization
Yazar 
Yuan, Yifei. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333255.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-29676-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: