Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Test and Analysis of Web Services için kapak resmi
Test and Analysis of Web Services
Yazar 
Baresi, Luciano. editor. Nitto, Elisabetta Di. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-72912-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Qualitätssicherung durch Softwaretests Vorgehensweisen und Werkzeuge zum Test von Java-Programmen için kapak resmi
Qualitätssicherung durch Softwaretests Vorgehensweisen und Werkzeuge zum Test von Java-Programmen
Yazar 
Kleuker, Stephan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(338309.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8348-2068-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces için kapak resmi
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces
Yazar 
Fan, Yongquan. author. Zilic, Zeljko. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9398-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
The Testing Network An Integral Approach to Test Activities in Large Software Projects için kapak resmi
The Testing Network An Integral Approach to Test Activities in Large Software Projects
Yazar 
Henry, Pierre. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-78504-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: