Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
VLSI Design and Test for Systems Dependability için kapak resmi
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Yazar 
Asai, Shojiro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits için kapak resmi
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Yazar 
Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Design of Systems on a Chip: Design and Test için kapak resmi
Design of Systems on a Chip: Design and Test
Yazar 
Reis, Ricardo. editor. Lubaszewski, Marcelo. editor. Jess, Jochen A.G. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32500-X
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Make and Test Projects in Engineering Design Creativity, Engagement and Learning için kapak resmi
Make and Test Projects in Engineering Design Creativity, Engagement and Learning
Yazar 
Samuel, Andrew Emery. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-285-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Make and test projects in engineering design : creativity, engagement and learning için kapak resmi
Make and test projects in engineering design : creativity, engagement and learning
Yazar 
Samuel, A. E. (Andrew E.), 1931-
Yer Numarası 
TA174 .S268 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization için kapak resmi
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Yazar 
Larsson, Erik. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b135763
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems için kapak resmi
System-level Test and Validation of Hardware/Software Systems
Yazar 
Sonza Reorda, Matteo. editor. Peng, Zebo. editor. Violante, Massimo. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-145-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: