Lifetime Spectroscopy A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Eylem Seç

Başlık:

Yazar:

Rein, Stefan. author.

ISBN:

9783540279228

Fiziksel Tanımlama:

XXVI, 489 p. 153 illus. online resource.

Seri:

Springer Series in Material Science, 85

Seri Başlığı:

Springer Series in Material Science, 0933-033X ; 85

Konu Terimleri:

Tüzel Kişi Ek Girişi:

Elektronik Erişim:

Ayırtma:
Kopya:

Kütüphane	Materyal Türü	Demirbaş Numarası	Yer Numarası	Durumu/İade Tarihi	Materyal Ayırtma
Arıyor... Çevrimiçi Kütüphane	E-Kitap	181606-2001	ONLINE	Arıyor... Unknown	Arıyor... Rafta