Semiconductor memories technology, testing, and reliability için kapak resmi
Başlık:
Semiconductor memories technology, testing, and reliability
Yazar:
Sharma, Ashok K.
ISBN:
9780470546406
Yayın Bilgileri:
Piscataway, N.J. : IEEE Press ; New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1997.
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource (xii, 462 p.) : ill.
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 249739-1001 ONLINE
Arıyor...

On Order