Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Correlation spectroscopy of surfaces, thin films, and nanostructures için kapak resmi
Correlation spectroscopy of surfaces, thin films, and nanostructures
Yazar 
Berakdar, J., 1964- Kirschner, J. (Jürgen), 1945- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Volltext http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/homepage/?isbn=3527603425
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527603425
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Nanoscale Materials for Warfare Agent Detection: Nanoscience for Security için kapak resmi
Nanoscale Materials for Warfare Agent Detection: Nanoscience for Security
Yazar 
Bittencourt, Carla. editor. Ewels, Chris. editor. Llobet, Eduard. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-024-1620-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Thin film analysis by X-ray scattering için kapak resmi
Thin film analysis by X-ray scattering
Yazar 
Birkholz, Mario. Fewster, Paul F. Genzel, Christoph. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527607595
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112599282
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: