Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Hidrojenlendirilmiş amorf silisyum filimlerde uzay yükü ile sınırlı akım tekniği ile durum yoğunluğunun belirlenmesi için kapak resmi
Hidrojenlendirilmiş amorf silisyum filimlerde uzay yükü ile sınırlı akım tekniği ile durum yoğunluğunun belirlenmesi
Yazar 
Okat, Tolga.
Yer Numarası 
TEZ/5179 O1 2001
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
In0,53Ga0,74As/In0,52Al0,48As heteroeklem örneklerde mobilite ölçümleri için kapak resmi
In0,53Ga0,74As/In0,52Al0,48As heteroeklem örneklerde mobilite ölçümleri
Yazar 
Altınöz, Safi.
Yer Numarası 
TEZ/5212 A79 2001
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Plasma processing of semiconductors için kapak resmi
Plasma processing of semiconductors
Yazar 
Williams, P. Frazer, ed.
Yer Numarası 
TA 2020 P532 1997
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
4. 
Low power design in deep submicron electronics için kapak resmi
Low power design in deep submicron electronics
Yazar 
Nebel, Wolfgang, ed. Mermet, Jean, ed.
Yer Numarası 
TK 7871.99.M44 L68 1997
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Low-dimensional semiconductors : materials, physics, technology, devices için kapak resmi
Low-dimensional semiconductors : materials, physics, technology, devices
Yazar 
Kelly, Michael J., 1949-
Yer Numarası 
QC 611.6.S9 K45 1995
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: