Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Materials science in microelectronics için kapak resmi
Materials science in microelectronics
Yazar 
Machlin, E. S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080446394
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080446400
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advanced signal integrity for high-speed digital designs için kapak resmi
Advanced signal integrity for high-speed digital designs
Yazar 
Hall, Stephen H. Heck, Howard L.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361024
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Defects in microelectronic materials and devices için kapak resmi
Defects in microelectronic materials and devices
Yazar 
Fleetwood, Daniel. Pantelides, Sokrates T. Schrimpf, Ronald Donald.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Design of cost-efficient interconnect processing units Spidergon STNoC için kapak resmi
Design of cost-efficient interconnect processing units Spidergon STNoC
Yazar 
Coppola, Marcello.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Electrostatic discharge understand, simulate and fix ESD problems için kapak resmi
Electrostatic discharge understand, simulate and fix ESD problems
Yazar 
Mardiguian, Michel.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361037
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies için kapak resmi
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Yazar 
Strong, Alvin Wayne, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361029
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: