Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Quality control and applied statistics. için kapak resmi
Quality control and applied statistics.
Yazar 
Executive Sciences Institute.
Yer Numarası 
ALFABETİK V.17 1972
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~11 ~0
Rafta:
Kopya:
2. 
Toplam kalite yönetimi ve kalite yönetim sistemi standartları için kapak resmi
Toplam kalite yönetimi ve kalite yönetim sistemi standartları
Yazar 
Parlak, Sıdıka.
Yer Numarası 
TS156.6 P37 2020
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Proses kontrol teknikleri ve altı sigma için kapak resmi
Proses kontrol teknikleri ve altı sigma
Yazar 
Kartal, Mahmut. Bardakçı, Sait.
Yer Numarası 
TS170 K37 2020
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: