Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests için kapak resmi
Nanometer Technology Designs High-Quality Delay Tests
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Ahmed, Nisar. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
China's High-Speed Rail Technology An International Perspective için kapak resmi
China's High-Speed Rail Technology An International Perspective
Yazar 
Fang, Youtong. editor. Zhang, Yuehong (Helen). editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-5610-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: