Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(36)
Bhushan, Bharat. editor.
(10)
Fuchs, Harald. editor.
(9)
Tomitori, Masahiko. editor.
(3)
Demtröder, Wolfgang. author.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
36 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000000000000000000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Surface and Interface Analysis An Electrochemists Toolbox için kapak resmi
Surface and Interface Analysis An Electrochemists Toolbox
Yazar 
Holze, Rudolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-49829-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. author. Fuchs, Harald. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Applied Scanning Probe Methods XIII Biomimetics and Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods XIII Biomimetics and Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85049-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe için kapak resmi
Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe
Yazar 
Hornbogen, Erhard. author. Skrotzki, Birgit. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-89946-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
X-ray and Neutron Reflectivity Principles and Applications için kapak resmi
X-ray and Neutron Reflectivity Principles and Applications
Yazar 
Daillant, Jean. editor. Gibaud, Alain. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-88588-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Laser Spectroscopy Vol. 1 Basic Principles için kapak resmi
Laser Spectroscopy Vol. 1 Basic Principles
Yazar 
Demtröder, Wolfgang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73418-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Yazar 
Fultz, Brent. author. Howe, James M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73886-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. Tomitori, Masahiko. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Applied Scanning Probe Methods IX Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods IX Characterization
Yazar 
Tomitori, Masahiko. editor. Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Applied Scanning Probe Methods X Biomimetics and Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods X Biomimetics and Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Tomitori, Masahiko. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74085-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Laser Spectroscopy Vol. 2 Experimental Techniques için kapak resmi
Laser Spectroscopy Vol. 2 Experimental Techniques
Yazar 
Demtröder, Wolfgang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74954-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Light Scattering in Solid IX için kapak resmi
Light Scattering in Solid IX
Yazar 
Cardona, Manuel. editor. Merlin, Roberto. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b14231
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
13. 
Very High Resolution Photoelectron Spectroscopy için kapak resmi
Very High Resolution Photoelectron Spectroscopy
Yazar 
Hüfner, Stefan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-68133-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Applied Scanning Probe Methods VI Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VI Characterization
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11776314
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11785705
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Yazar 
Kalinin, Sergei. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging için kapak resmi
Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging
Yazar 
Suhir, E. editor. Lee, Y. C. editor. Wong, C. P. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-32989-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Science of Microscopy için kapak resmi
Science of Microscopy
Yazar 
Hawkes, Peter W. editor. Spence, John C. H. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-49762-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis için kapak resmi
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
Yazar 
Alford, Terry L. author. Feldman, Leonard C. author. Mayer, James W. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Yazar 
Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Solid State NMR Spectroscopy for Biopolymers Principles and Applications için kapak resmi
Solid State NMR Spectroscopy for Biopolymers Principles and Applications
Yazar 
Saitô, Hazime. author. Ando, Isao. author. Naito, Akira. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4303-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Surface-Enhanced Raman Scattering Physics and Applications için kapak resmi
Surface-Enhanced Raman Scattering Physics and Applications
Yazar 
Kneipp, Katrin. editor. Moskovits, Martin. editor. Kneipp, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-33567-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Metalle Struktur und Eigenschaften der Metalle und Legierungen için kapak resmi
Metalle Struktur und Eigenschaften der Metalle und Legierungen
Yazar 
Hornbogen, Erhard. author. Warlimont, Hans. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-34011-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
25. 
Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis için kapak resmi
Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis
Yazar 
Beckhoff, Burkhard. editor. Kanngießer, habil. Birgit. editor. Langhoff, Norbert. editor. Wedell, Reiner. editor. Wolff, Helmut. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-36722-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
26. 
Applied Scanning Probe Methods III Characterization için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods III Characterization
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138285
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
27. 
Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138289
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
28. 
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques için kapak resmi
Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b139097
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
29. 
Planewaves, Pseudopotentials and the LAPW Method için kapak resmi
Planewaves, Pseudopotentials and the LAPW Method
Yazar 
Singh, David J. author. Nordström, Lars. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29684-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
30. 
Handbook of Applied Solid State Spectroscopy için kapak resmi
Handbook of Applied Solid State Spectroscopy
Yazar 
Vij, D. R. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37590-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
31. 
Neutron and X-ray Spectroscopy için kapak resmi
Neutron and X-ray Spectroscopy
Yazar 
Hippert, Françoise. editor. Geissler, Erik. editor. Hodeau, Jean Louis. editor. Lelièvre-Berna, Eddy. editor. Regnard, Jean-René. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3337-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
32. 
Micromachined Thin-Film Sensors for SOI-CMOS Co-Integration için kapak resmi
Micromachined Thin-Film Sensors for SOI-CMOS Co-Integration
Yazar 
Laconte, J. author. Flandre, D. author. Raskin, J. -P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-28843-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
33. 
Spectroscopic Properties of Rare Earths in Optical Materials için kapak resmi
Spectroscopic Properties of Rare Earths in Optical Materials
Yazar 
Hull, Robert. editor. Parisi, Jürgen. editor. Osgood, R. M. editor. Warlimont, Hans. editor. Liu, Guokui. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-28209-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
34. 
Introduction to Focused Ion Beams Instrumentation, Theory, Techniques and Practice için kapak resmi
Introduction to Focused Ion Beams Instrumentation, Theory, Techniques and Practice
Yazar 
Giannuzzi, Lucille A. editor. Stevie, Fred A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b101190
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
35. 
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics için kapak resmi
Thin Films and Heterostructures for Oxide Electronics
Yazar 
Ogale, Satischandra B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b136780
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
36. 
Materials for Information Technology Devices, Interconnects and Packaging için kapak resmi
Materials for Information Technology Devices, Interconnects and Packaging
Yazar 
Zschech, Ehrenfried. editor. Whelan, Caroline. editor. Mikolajick, Thomas. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-235-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: