Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques için kapak resmi
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques
Yazar 
Chen, Mingsong. author. Qin, Xiaoke. author. Koo, Heon-Mo. author. Mishra, Prabhat. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1359-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers için kapak resmi
VLSI Design and Test 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers
Yazar 
Gaur, Manoj Singh. editor. Zwolinski, Mark. editor. Laxmi, Vijay. editor. Boolchandani, Dharmendra. editor. Sing, Virendra. editor.
Yer Numarası 
ONLINE(335156.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-42024-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip için kapak resmi
Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Yazar 
Girard, Patrick. editor. Blanton, Shawn. editor. Wang, Li-C. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-19639-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Counterfeit Integrated Circuits Detection and Avoidance için kapak resmi
Counterfeit Integrated Circuits Detection and Avoidance
Yazar 
Tehranipoor, Mark (Mohammad). author. Guin, Ujjwal. author. Forte, Domenic. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-11824-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: