Search Results for Scanning.

1.

Acoustic Scanning Probe Microscopy

Yazar

Marinello, Francesco. editor. Passeri, Daniele. editor. Savio, Enrico. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(333153.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-27494-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

2.

Applied Scanning Probe Methods XII Characterization

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85039-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

3.

Applied Scanning Probe Methods IX Characterization

Yazar

Tomitori, Masahiko. editor. Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

4.

Roadmap of Scanning Probe Microscopy

Yazar

Morita, Seizo. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-34315-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

5.

Applied Scanning Probe Methods VI Characterization

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/11776314

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

6.

Applied Scanning Probe Methods III Characterization

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b138285

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

7.

Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis

Yazar

Pennycook, Stephen J. editor. Nellist, Peter D. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7200-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

8.

New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy

Yazar

Shimizu, Kenichi. author. Mitani, Tomoaki. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03160-1

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

9.

Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications

Yazar

Zhou, Weilie. editor. Wang, Zhong Lin. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-39620-0

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

10.

Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b138289

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

11.

Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE(333137.1)

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-25414-7

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

12.

Scanning Probe Microscopy of Functional Materials Nanoscale Imaging and Spectroscopy

Yazar

Kalinin, Sergei V. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7167-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

13.

Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-10497-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

14.

Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Yazar

Echlin, Patrick. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-85731-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

15.

Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. author. Fuchs, Harald. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

16.

Applied Scanning Probe Methods XIII Biomimetics and Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85049-6

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

17.

Applied Scanning Probe Methods X Biomimetics and Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Tomitori, Masahiko. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74085-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

18.

Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. Tomitori, Masahiko. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

19.

Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Yazar

Kalinin, Sergei. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

20.

Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

21.

Applied Scanning Probe Methods VII Biomimetics and Industrial Applications

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/11785705

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

22.

Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Yazar

Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

23.

Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b139097

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

24.

Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002

Yazar

Vilarinho, Paula Maria. editor. Rosenwaks, Yossi. editor. Kingon, Angus. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3019-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

	{displayName}	{count}
{error}