Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
21 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Semiconductor Power Devices Physics, Characteristics, Reliability için kapak resmi
Semiconductor Power Devices Physics, Characteristics, Reliability
Yazar 
Lutz, Josef. author. Schlangenotto, Heinrich. author. Scheuermann, Uwe. author. De Doncker, Rik. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-70917-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS için kapak resmi
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Yazar 
Maricau, Elie. author. Gielen, Georges. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331961.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Lead Free Solder Mechanics and Reliability için kapak resmi
Lead Free Solder Mechanics and Reliability
Yazar 
Pang, John Hock Lye. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0463-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Solid State Lighting Reliability Components to Systems için kapak resmi
Solid State Lighting Reliability Components to Systems
Yazar 
van Driel, W.D. editor. Fan, X.J. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331314.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3067-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip için kapak resmi
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Yazar 
Wang, Zheng. author. Chattopadhyay, Anupam. author. (orcid)0000-0002-8818-6983 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-1073-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Solid State Lighting Reliability Part 2 Components to Systems için kapak resmi
Solid State Lighting Reliability Part 2 Components to Systems
Yazar 
van Driel, Willem Dirk. editor. Fan, Xuejun. editor. Zhang, Guo Qi. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-58175-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Power Electronic Packaging Design, Assembly Process, Reliability and Modeling için kapak resmi
Power Electronic Packaging Design, Assembly Process, Reliability and Modeling
Yazar 
Liu, Yong. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1053-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Reliability, Availability and Serviceability of Networks-on-Chip için kapak resmi
Reliability, Availability and Serviceability of Networks-on-Chip
Yazar 
Cota, Érika. author. Morais Amory, Alexandre. author. Soares Lubaszewski, Marcelo. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0791-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Reliability of Nanoscale Circuits and Systems Methodologies and Circuit Architectures için kapak resmi
Reliability of Nanoscale Circuits and Systems Methodologies and Circuit Architectures
Yazar 
Stanisavljević, Miloš. author. Schmid, Alexandre. author. Leblebici, Yusuf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6217-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Securing Electricity Supply in the Cyber Age Exploring the Risks of Information and Communication Technology in Tomorrow's Electricity Infrastructure için kapak resmi
Securing Electricity Supply in the Cyber Age Exploring the Risks of Information and Communication Technology in Tomorrow's Electricity Infrastructure
Yazar 
Lukszo, Zofia. editor. Deconinck, Geert. editor. Weijnen, Margot P. C. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3594-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Fault-Tolerant Design için kapak resmi
Fault-Tolerant Design
Yazar 
Dubrova, Elena. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331297.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2113-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
13. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Advanced risk analysis in engineering enterprise systems için kapak resmi
Advanced risk analysis in engineering enterprise systems
Yazar 
Pinto, Cesar Ariel., author. Garvey, Paul R., 1956-
Yer Numarası 
TA169 .P56 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Systems engineering and safety : building the bridge için kapak resmi
Systems engineering and safety : building the bridge
Yazar 
Glismann, Peter J., author.
Yer Numarası 
TA169 .G54 2013
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Quantitative measurements for logistics için kapak resmi
Quantitative measurements for logistics
Yazar 
Frohne, Philip T. SOLE--The International Society of Logistics.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Supportability engineering handbook implementation, measurement, and management için kapak resmi
Supportability engineering handbook implementation, measurement, and management
Yazar 
Jones, James V.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Systems engineering tools and methods için kapak resmi
Systems engineering tools and methods
Yazar 
Kamrani, Ali K. Azimi, Maryam.
Yer Numarası 
TA168 .S8855 2011
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Architecting resilient systems accident avoidance and survival and recovery from disruptions için kapak resmi
Architecting resilient systems accident avoidance and survival and recovery from disruptions
Yazar 
Jackson, Scott.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=469532
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470544013
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10355233
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Systems and software engineering with applications için kapak resmi
Systems and software engineering with applications
Yazar 
Schneidewind, Norman.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5769539
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5769539
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
The communications facility design handbook için kapak resmi
The communications facility design handbook
Yazar 
Whitaker, Jerry C., author.
Yer Numarası 
TK7870 .W392 2000
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: