Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2009 and Mensura 2009 Amsterdam, The Netherlands, November 4-6, 2009. Proceedings için kapak resmi
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2009 and Mensura 2009 Amsterdam, The Netherlands, November 4-6, 2009. Proceedings
Yazar 
Abran, Alain. editor. Braungarten, René. editor. Dumke, Reiner R. editor. Cuadrado-Gallego, Juan J. editor. Brunekreef, Jacob. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-05415-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2008, Metrikon 2008, and Mensura 2008 Munich, Germany, November 18-19, 2008. Proceedings için kapak resmi
Software Process and Product Measurement International Conferences IWSM 2008, Metrikon 2008, and Mensura 2008 Munich, Germany, November 18-19, 2008. Proceedings
Yazar 
Dumke, Reiner R. editor. Braungarten, René. editor. Büren, Günter. editor. Abran, Alain. editor. Cuadrado-Gallego, Juan J. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-89403-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Software Process and Product Measurement International Conference, IWSM-Mensura 2007, Palma de Mallorca, Spain, November 5-8, 2007. Revised Papers için kapak resmi
Software Process and Product Measurement International Conference, IWSM-Mensura 2007, Palma de Mallorca, Spain, November 5-8, 2007. Revised Papers
Yazar 
Cuadrado-Gallego, Juan J. editor. Braungarten, René. editor. Dumke, Reiner R. editor. Abran, Alain. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85553-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: