Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems için kapak resmi
Başlık:
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems
Yazar:
Liu, Johan. author.
ISBN:
9781441957603
Basım Bilgisi:
1.
Fiziksel Tanımlama:
XIII, 204p. 50 illus. online resource.
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 172420-2001 ONLINE
Arıyor...

On Order