![Nanometer Variation-Tolerant SRAM Circuits and Statistical Design for Yield için kapak resmi Nanometer Variation-Tolerant SRAM Circuits and Statistical Design for Yield için kapak resmi](/client/assets/5.0.0.9/ctx//client/images/no_image.png)
Başlık:
Nanometer Variation-Tolerant SRAM Circuits and Statistical Design for Yield
Yazar:
Abu-Rahma, Mohamed H. author.
ISBN:
9781461417491
Fiziksel Tanımlama:
XVI, 172 p. online resource.
Yazar Ek Girişi:
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1749-1Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 331282-1001 | ONLINE(331282.1) | Arıyor... | Arıyor... |