Başlık:
Thin film analysis by X-ray scattering
Yazar:
Birkholz, Mario.
ISBN:
9783527310524
9783527607594
Yayın Bilgileri:
Weinheim : Wiley-VCH, c2006.
Fiziksel Tanımlama:
xxii, 356 p. : ill. ; 25 cm.
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527607595http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112599282
Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 302207-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |