Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces

Eylem Seç

Başlık:

Yazar:

Fan, Yongquan. author.

ISBN:

9789048193981

Fiziksel Tanımlama:

XII, 250p. 120 illus., 60 illus. in color. online resource.

Konu Terimleri:

Yazar Ek Girişi:

Tüzel Kişi Ek Girişi:

Elektronik Erişim:

Ayırtma:
Kopya:

Kütüphane	Materyal Türü	Demirbaş Numarası	Yer Numarası	Durumu/İade Tarihi	Materyal Ayırtma
Arıyor... Çevrimiçi Kütüphane	E-Kitap	205484-2001	ONLINE	Arıyor... Unknown	Arıyor... Rafta