Başlık:
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Yazar:
Franco, Jacopo. author.
ISBN:
9789400776630
Basım Bilgisi:
1st ed. 2014.
Fiziksel Tanımlama:
XIX, 187 p. 219 illus. online resource.
Seri:
Springer Series in Advanced Microelectronics, 47
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 489246-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |