Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
2010
(2)
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations için kapak resmi
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations
Yazar 
Garg, Rajesh. author. Khatri, Sunil P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design için kapak resmi
Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design
Yazar 
Jayakumar, Nikhil. author. Paul, Suganth. author. Garg, Rajesh. author. Gulati, Kanupriya. author. Khatri, Sunil P. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0950-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: