Başlık:
Testing static random access memories : Defects, fault models, and test patterns
Yazar:
Hamdioui, Said.
ISBN:
9781402077524
Yayın Bilgileri:
Boston : Kluwer Academic, 2004.
Fiziksel Tanımlama:
xx, 221 s.
Seri:
Frontiers in electronic testing
Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | Kitap | 7.2/19/3834 | TK7895.M4 H34 2004 | Arıyor... | Arıyor... |