Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Dil
Yayın Yılı
-
1973
(2)
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Computed electron micrographs and defect identification için kapak resmi
Computed electron micrographs and defect identification
Yazar 
Head, A. K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780720417579
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Computed electron micrographs and defect identification için kapak resmi
Computed electron micrographs and defect identification
Yazar 
Head, A. K.
Yer Numarası 
QD 901 D4 1973 C7
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: