Semiconductor memories technology, testing, and reliability

Eylem Seç

Başlık:

Yazar:

Sharma, Ashok K.

ISBN:

9780470546406

Yayın Bilgileri:

Piscataway, N.J. : IEEE Press ; New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1997.

Fiziksel Tanımlama:

1 online resource (xii, 462 p.) : ill.

Konu Terimleri:

Tür:

Tüzel Kişi Ek Girişi:

Elektronik Erişim:

Ayırtma:
Kopya:

Kütüphane	Materyal Türü	Demirbaş Numarası	Yer Numarası	Durumu/İade Tarihi	Materyal Ayırtma
Arıyor... Çevrimiçi Kütüphane	E-Kitap	249739-1001	ONLINE	Arıyor... Unknown	Arıyor... Rafta