Statistical analysis and modelling of spatial point patterns için kapak resmi
Başlık:
Statistical analysis and modelling of spatial point patterns
Yazar:
Illian, Janine.
ISBN:
9780470725160
Yayın Bilgileri:
Chichester, England ; Hoboken, NJ : John Wiley, c2008.
Fiziksel Tanımlama:
xix, 534 p. : ill. ; 24 cm.
Yazar Ek Girişi:
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470725160
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 298273-1001 ONLINE
Arıyor...

On Order