Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Stochastic Models in Reliability için kapak resmi
Stochastic Models in Reliability
Yazar 
Aven, Terje. author. Jensen, Uwe. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332363.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7894-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Zuverlässigkeit mechatronischer Systeme Grundlagen und Bewertung in frühen Entwicklungsphasen için kapak resmi
Zuverlässigkeit mechatronischer Systeme Grundlagen und Bewertung in frühen Entwicklungsphasen
Yazar 
Bertsche, Bernd. author. Göhner, Peter. author. Jensen, Uwe. author. Schinköthe, Wolfgang. author. Wunderlich, Hans-Joachim. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85091-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: