Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Optical metrology için kapak resmi
Optical metrology
Yazar 
Gåsvik, Kjell J. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470855606
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Comprehensive mass metrology için kapak resmi
Comprehensive mass metrology
Yazar 
Kochsiek, Manfred. Gläser, Michael, 1942- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/43419333.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527602992
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: