Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Comparative risk assessment concepts, problems and applications için kapak resmi
Comparative risk assessment concepts, problems and applications
Yazar 
Schütz, Holger. Wiedemann, Peter M., 1948- Hennings, Wilfried, 1953- Mertens, Johannes, 1952- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=169598
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
An introduction to materials engineering and science for chemical and materials engineers için kapak resmi
An introduction to materials engineering and science for chemical and materials engineers
Yazar 
Mitchell, Brian S., 1962- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE(318834.1)
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=469720
ebrary http://site.ebrary.com/id/10304984
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=149474
Google http://books.google.com/books?id=9KVRAAAAMAAJ
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471473359
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Digital signal processing a computer science perspective için kapak resmi
Digital signal processing a computer science perspective
Yazar 
Stein, Jonathan Y. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE(318790.1)
Elektronik Erişim 
Available by subscription from Safari Books Online
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/047120059X
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=55617
Table of contents http://catdir.loc.gov/catdir/toc/onix05/00035905.html
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley045/00035905.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: