Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Statistical methods for survival data analysis için kapak resmi
Statistical methods for survival data analysis
Yazar 
Lee, Elisa T. Wang, John Wenyu. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471458546
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/104543139
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/bios/wiley042/2002027025.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Probability and random processes için kapak resmi
Probability and random processes
Yazar 
Krishnan, Venkatarama, 1929- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click for information
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471998303
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112139505
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=265882
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=50822&ref=toc
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Electric power systems a conceptual introduction için kapak resmi
Electric power systems a conceptual introduction
Yazar 
Meier, Alexandra von. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5238205
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: