Başlık:
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces
Yazar:
Kaupp, Gerd. author.
ISBN:
9783540284727
Fiziksel Tanımlama:
XII, 292 p. 239 illus. online resource.
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 181752-2001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |