Başlık:
Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Yazar:
Raji, Mohsen. author.
ISBN:
9783031153457
Basım Bilgisi:
1st ed. 2023.
Fiziksel Tanımlama:
XIII, 107 p. 31 illus., 13 illus. in color. online resource.
İçerik:
1. Impacts of Process Variations and Aging on Lifetime Reliability of Flip-Flops -- 2 Restructuring-based Lifetime Reliability Improvement of Nano-scale Master-Slave Flip-Flops -- 3 Lifetime Reliability Improvement of Pulsed Flip-Flops -- 4 Gate Sizing-based Lifetime Reliability Improvement of Integrated Circuits -- 5 Joint Timing Yield and Lifetime Reliability Optimization of Integrated Circuits -- 6 Lifetime Reliability Optimization Algorithms of Integrated Circuits using Dual Threshold Voltage Assignment.
Yazar Ek Girişi:
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
https://doi.org/10.1007/978-3-031-15345-7Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 527089-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |