Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Defects in High-k Gate Dielectric Stacks Nano-Electronic Semiconductor Devices için kapak resmi
Defects in High-k Gate Dielectric Stacks Nano-Electronic Semiconductor Devices
Yazar 
Gusev, Evgeni. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4367-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Characterisation of Ferroelectric Bulk Materials and Thin Films için kapak resmi
Characterisation of Ferroelectric Bulk Materials and Thin Films
Yazar 
Cain, Markys G. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4020-9311-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: