Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections için kapak resmi
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Yazar 
Tan, Cher Ming. author. Li, Wei. author. Gan, Zhenghao. author. Hou, Yuejin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-310-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level için kapak resmi
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Yazar 
Tan, Cher Ming. author. He, Feifei. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(336507.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-981-4451-21-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: