Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems Methods and Applications için kapak resmi
Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems Methods and Applications
Yazar 
Shi, Guoyong. author. Tan, Sheldon X.-D. author. Tlelo Cuautle, Esteban. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1103-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs için kapak resmi
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Yazar 
Shen, Ruijing. author. Tan, Sheldon X.-D. author. Yu, Hao. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0788-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: