Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Dil
Yayın Yılı
-
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
X-Işını kırınımı yöntemiyle kripta-fosfazen türevlerinin kristal yapı analizi = Crystal structure analysis of crypta-phosphazane derivatives by X-Ray diffraction method için kapak resmi
X-Işını kırınımı yöntemiyle kripta-fosfazen türevlerinin kristal yapı analizi = Crystal structure analysis of crypta-phosphazane derivatives by X-Ray diffraction method
Yazar 
Tercan, Mustafa Barış.
Yer Numarası 
TEZ/7635 .T315 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Güneş pili karakterizasyonu yöntemleri = Solar cell characterization methods için kapak resmi
Güneş pili karakterizasyonu yöntemleri = Solar cell characterization methods
Yazar 
Tercan, Mustafa Barış.
Yer Numarası 
TEZ 4700 .T47 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: