X-Işını kırınımı yöntemiyle kripta-fosfazen türevlerinin kristal yapı analizi = Crystal structure analysis of crypta-phosphazane derivatives by X-Ray diffraction method için kapak resmi
Başlık:
X-Işını kırınımı yöntemiyle kripta-fosfazen türevlerinin kristal yapı analizi = Crystal structure analysis of crypta-phosphazane derivatives by X-Ray diffraction method
Yazar:
Tercan, Mustafa Barış.
Yayın Bilgileri:
Ankara : Hacettepe Üniv., 2006.
Fiziksel Tanımlama:
xix, 180 y. : şkl.
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
Tez 7.2/12/361468 TEZ/7635 .T315 2006
Arıyor...

On Order