LSI/VLSI testability design için kapak resmi
Başlık:
LSI/VLSI testability design
Yazar:
Tsui, Frank F.
ISBN:
9780070653412
Yayın Bilgileri:
New York : McGraw-Hill, 1987.
Fiziksel Tanımlama:
xii, 702 s.
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
Kitap 7.2/12/592377 TH 7874 T78 1987
Arıyor...

On Order