Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Fundamentals of instrumentation and measurement için kapak resmi
Fundamentals of instrumentation and measurement
Yazar 
Placko, Dominique. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0668/2006020964-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470612026
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Nanoscale calibration standards and methods dimensional and related measurements in the micro- and nanometer range için kapak resmi
Nanoscale calibration standards and methods dimensional and related measurements in the micro- and nanometer range
Yazar 
Wilkening, Günter. Koenders, Ludger. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0653/2006482032-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527606661
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=481681
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=85401&ref=toc
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=481681
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: