Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Trustworthy systems through quantitative software engineering için kapak resmi
Trustworthy systems through quantitative software engineering
Yazar 
Bernstein, Lawrence, 1940- Yuhas, C. M. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5988898
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
The dark side of software engineering the ethics and realities of subversion, lying, espionage, and other nefarious activities için kapak resmi
The dark side of software engineering the ethics and realities of subversion, lying, espionage, and other nefarious activities
Yazar 
Rost, Johann. Glass, Robert L., 1932- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381796
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Emerging methods, technologies, and process management in software engineering için kapak resmi
Emerging methods, technologies, and process management in software engineering
Yazar 
De Lucia, Andrea. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0808/2007032135-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470238103
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Software performance and scalability a quantitative approach için kapak resmi
Software performance and scalability a quantitative approach
Yazar 
Liu, Henry H. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=33731
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=448916
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470465394
Safari Books Online http://proquest.safaribooksonline.com/?fpi=9780470462539
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=223744&ref=toc
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Microstructural characterization of materials için kapak resmi
Microstructural characterization of materials
Yazar 
Brandon, D. G. Kaplan, Wayne D. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Online text
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9780470727133
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=470287
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470727133
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=234294&ref=toc
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Semantic web and model-driven engineering için kapak resmi
Semantic web and model-driven engineering
Yazar 
Parreiras, Fernando Silva. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=6218883
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Solving enterprise applications performance puzzles queuing models to the rescue için kapak resmi
Solving enterprise applications performance puzzles queuing models to the rescue
Yazar 
Grinshpan, L. A. (Leonid Abramovich) Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEEXplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6168885
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Software testing testing across the entire software development life cycle için kapak resmi
Software testing testing across the entire software development life cycle
Yazar 
Everett, Gerald D., 1943- McLeod, Raymond. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5201507
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: