Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems için kapak resmi
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems
Yazar 
Ibe, Eishi H., author.
Yer Numarası 
ONLINE(342252.1)
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118479308
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Computational Intelligence in Analog and Mixed-Signal (AMS) and Radio-Frequency (RF) Circuit Design için kapak resmi
Computational Intelligence in Analog and Mixed-Signal (AMS) and Radio-Frequency (RF) Circuit Design
Yazar 
Fakhfakh, Mourad. editor. Tlelo-Cuautle, Esteban. editor. Siarry, Patrick. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
XX(518551.1)
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-19872-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Green electronics manufacturing creating environmental sensible products için kapak resmi
Green electronics manufacturing creating environmental sensible products
Yazar 
Wang, John X., 1962-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Semiconductor process reliability in practice için kapak resmi
Semiconductor process reliability in practice
Yazar 
Gan, Zhenghao. Wong, Waisum. Liou, Juin J.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
ESD failure mechanisms and models için kapak resmi
ESD failure mechanisms and models
Yazar 
Voldman, Steven H. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470747254
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10317806
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Low-power HF Microelectronics A unified approach için kapak resmi
Low-power HF Microelectronics A unified approach
Yazar 
Machado, Gerson A. S., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS008E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation için kapak resmi
Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation
Yazar 
Heyman, Joseph S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780815511717
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: