Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
High Performance Computing 38th International Conference, ISC High Performance 2023, Hamburg, Germany, May 21-25, 2023, Proceedings için kapak resmi
High Performance Computing 38th International Conference, ISC High Performance 2023, Hamburg, Germany, May 21-25, 2023, Proceedings
Yazar 
Bhatele, Abhinav. editor. Hammond, Jeff. editor. Baboulin, Marc. editor. Kruse, Carola. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-32041-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applied Reconfigurable Computing. Architectures, Tools, and Applications 19th International Symposium, ARC 2023, Cottbus, Germany, September 27-29, 2023, Proceedings için kapak resmi
Applied Reconfigurable Computing. Architectures, Tools, and Applications 19th International Symposium, ARC 2023, Cottbus, Germany, September 27-29, 2023, Proceedings
Yazar 
Palumbo, Francesca. editor. Keramidas, Georgios. editor. Voros, Nikolaos. editor. Diniz, Pedro C. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-42921-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Machine Learning for Networking 5th International Conference, MLN 2022, Paris, France, November 28-30, 2022, Revised Selected Papers için kapak resmi
Machine Learning for Networking 5th International Conference, MLN 2022, Paris, France, November 28-30, 2022, Revised Selected Papers
Yazar 
Renault, Éric. editor. Mühlethaler, Paul. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-36183-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Testing Complex and Embedded Systems için kapak resmi
Testing Complex and Embedded Systems
Yazar 
Pries, Kim H., author. Quigley, Jon M., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Simulation technologies in networking and communications : selecting the best tool for the test için kapak resmi
Simulation technologies in networking and communications : selecting the best tool for the test
Yazar 
Pathan, Al-Sakib Khan, editor. Monowar, Muhammad Mostafa, editor. Khan, Shafiullah, editor.
Yer Numarası 
QA76.9 .C65 S56 2015
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
EDA for IC system design, verification, and testing için kapak resmi
EDA for IC system design, verification, and testing
Yazar 
Lavagno, Luciano, 1959- Martin, Grant (Grant Edmund) Scheffer, Louis Kossuth.
Yer Numarası 
TK7874 .E26 2006
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: