Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
6 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
High-performance embedded computing architectures, applications, and methodologies için kapak resmi
High-performance embedded computing architectures, applications, and methodologies
Yazar 
Wolf, Wayne. ScienceDirect (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
High-performance embedded computing architectures, applications, and methodologies için kapak resmi
High-performance embedded computing architectures, applications, and methodologies
Yazar 
Wolf, Wayne.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123694850
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Multiprocessor systems-on-chips için kapak resmi
Multiprocessor systems-on-chips
Yazar 
Jerraya, Ahmed A. (Ahmed Amine) Wolf, Wayne Hendrix.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123852519
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Readings in hardware/software co-design için kapak resmi
Readings in hardware/software co-design
Yazar 
De Micheli, Giovanni. Ernst, Rolf. Wolf, Wayne.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781558607026
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Distributed Embedded Systems: Design, Middleware and Resources için kapak resmi
Distributed Embedded Systems: Design, Middleware and Resources
Yazar 
Kleinjohann, Bernd. editor. Wolf, Wayne. editor. Kleinjohann, Lisa. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-09661-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Reference materials for chemical analysis certification, availability, and proper usage için kapak resmi
Reference materials for chemical analysis certification, availability, and proper usage
Yazar 
Stoeppler, M. (Markus), 1927- Wolf, Wayne R., 1943- Jenks, Peter J. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527613045
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: