Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits için kapak resmi
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
Yazar 
Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- Agrawal, Vishwani D., 1943-
Yer Numarası 
TK7874.75 B87 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advances in electronic testing : challenges and methodologies için kapak resmi
Advances in electronic testing : challenges and methodologies
Yazar 
Gizopoulos, Dimitris.
Yer Numarası 
TK7867 .A385 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: