Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Automated biometrics : technologies and systems için kapak resmi
Automated biometrics : technologies and systems
Yazar 
Zhang, David, 1949-
Yer Numarası 
TK 7882.P3 Z43 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Graphics recognition : recent advances : Third International Workshop, GREC'99, Jaipur, India, September 26-27, 1999 : selected papers için kapak resmi
Graphics recognition : recent advances : Third International Workshop, GREC'99, Jaipur, India, September 26-27, 1999 : selected papers
Yazar 
Chhabra, Atul K., ed. Dori, Dov, ed. International Workshop on Graphics Recognition (3rd : 1999 : Jaipur, India)
Yer Numarası 
TA 1637 G725 2000
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Structural pattern analysis için kapak resmi
Structural pattern analysis
Yazar 
Mohr, R., ed. Pavlidis, T., ed. Sandfeliu, A., ed.
Yer Numarası 
TK 7882.P3 S77 1990
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Pattern models için kapak resmi
Pattern models
Yazar 
Ahuja, Narendra, 1950- Schachter, Bruce Jay, 1946- ort. yaz.
Yer Numarası 
TK 7882.P3 A36 1982
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Digital waveform processing and recognition için kapak resmi
Digital waveform processing and recognition
Yazar 
Chen, Chi-Hau, 1937- ed.
Yer Numarası 
TK 5102.5 D45 1982
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: