Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach için kapak resmi
Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach
Yazar 
Laurila, Tomi. author. Vuorinen, Vesa. author. Paulasto-Kröckel, Mervi. author. Turunen, Markus. author. Mattila, Toni T. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Thermodynamics, Diffusion and the Kirkendall Effect in Solids için kapak resmi
Thermodynamics, Diffusion and the Kirkendall Effect in Solids
Yazar 
Paul, Aloke. author. Laurila, Tomi. author. Vuorinen, Vesa. author. Divinski, Sergiy V. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-07461-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: