Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
13 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Optical metrology için kapak resmi
Optical metrology
Yazar 
Gåsvik, Kjell J.
Yer Numarası 
ONLINE(318819.1)
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=146226
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=79534
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=26972
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470855606
Table of contents http://catdir.loc.gov/catdir/toc/wiley023/2002072607.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Optical metrology için kapak resmi
Optical metrology
Yazar 
Gåsvik, Kjell J. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470855606
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Optical imaging and metrology advanced technologies için kapak resmi
Optical imaging and metrology advanced technologies
Yazar 
Osten, Wolfgang. Reingand, Nadya.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=947916
Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527648443
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10575536
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications için kapak resmi
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications
Yazar 
Servín, Manuel, author. Quiroga, J. Antonio (Juan Antonio), author. Padilla, J. Moisés (José Moisés), author.
Yer Numarası 
ONLINE(342225.1)
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=1701414
ebrary http://site.ebrary.com/id/10881255
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527681075
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=615339
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology için kapak resmi
Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology
Yazar 
Osten, Wolfgang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-36359-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
A practical guide to optical metrology for thin films için kapak resmi
A practical guide to optical metrology for thin films
Yazar 
Quinten, Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Check for Full Text Access restricted: MSVU users only
Ebook Library Click here to view book
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527664344
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5 Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics için kapak resmi
Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5 Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics
Yazar 
Proulx, Tom. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0228-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology için kapak resmi
Fringe 2009 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology
Yazar 
Osten, Wolfgang. editor. Kujawinska, Malgorzata. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03051-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Rotating Machinery, Optical Methods & Scanning LDV Methods, Volume 6 Proceedings of the 40th IMAC, A Conference and Exposition on Structural Dynamics 2022 için kapak resmi
Rotating Machinery, Optical Methods & Scanning LDV Methods, Volume 6 Proceedings of the 40th IMAC, A Conference and Exposition on Structural Dynamics 2022
Yazar 
Di Maio, Dario. editor. Baqersad, Javad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-04098-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Handbook of Metrology and Applications için kapak resmi
Handbook of Metrology and Applications
Yazar 
Aswal, Dinesh K. editor. Yadav, Sanjay. editor. Takatsuji, Toshiyuki. editor. Rachakonda, Prem. editor. Kumar, Harish. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-99-2074-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection Advances and Applications için kapak resmi
Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection Advances and Applications
Yazar 
Liu, Zheng. editor. Ukida, Hiroyuki. editor. Ramuhalli, Pradeep. editor. Niel, Kurt. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4471-6741-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Microstructuring of Thermo-Mechanically Highly Stressed Surfaces Final Report of the DFG Research Group 576 için kapak resmi
Microstructuring of Thermo-Mechanically Highly Stressed Surfaces Final Report of the DFG Research Group 576
Yazar 
Denkena, Berend. editor. Rienäcker, Adrian. editor. Knoll, Gunter. editor. Bach, Friedrich-Wilhelm. editor. Maier, Hans Jürgen. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09692-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: