Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Statistical pattern recognition için kapak resmi
Statistical pattern recognition
Yazar 
Chen, Chi-hau.
Yer Numarası 
Q 327 C42 1973
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Pattern recognition : introduction and foundations için kapak resmi
Pattern recognition : introduction and foundations
Yazar 
Sklansky, Jack.
Yer Numarası 
Q 335 S55 1973
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Classification, estimation, and pattern recognition için kapak resmi
Classification, estimation, and pattern recognition
Yazar 
Young, Tzay Y., 1933- Calvert, Thomas W., ort. yaz.
Yer Numarası 
Q 327 Y68 1973
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: