Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Logic testing and design for testability için kapak resmi
Logic testing and design for testability
Yazar 
Fujiwara, Hideo.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Fundamentals of logic design için kapak resmi
Fundamentals of logic design
Yazar 
Roth, Charles H.
Yer Numarası 
TK 7868.L6 R67 1985
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: