Başlık:
Logic testing and design for testability
Yazar:
Fujiwara, Hideo.
ISBN:
9780262256186
Yayın Bilgileri:
Cambridge, Mass. : MIT Press, c1985.
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource (x, 284 p.) : ill.
Seri:
MIT Press series in computer systems
Seri Başlığı:
MIT Press series in computer systems
Elektronik Erişim:
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 220153-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |